Свидетельство о государственной регистрации топологии интегральной микросхемы №2009630003

03.02.2009

Топология тестового кристалла для экспериментальной проверки базовой технологии изготовления микропотребляющих СБИС на объемном кремнии

Авторы: Басаева Татьяна Сергеевна, Кузнецов Евгений Васильевич.