Применение фокусированного ионного пучка для приготовления образцов для электронно-микроскопических исследований поверхностных наноструктур.

17.09.2011

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2011. № 9. С. 94-99.
Авторы: Волков Р.Л., Боргардт Н.И., Кукин В.Н., Приходько А.С., Басаев А.С., Шаман Ю.П.